ICS71.080.99
G15
中华人民共和国国家标准
GB/T33048—2016
偏振片 光学补偿值的测定
Polarizingfilm—Testmethodofopticalretardation
2016-10-13发布 2017-05-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布前 言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由中国石油和化学工业联合会提出。
本标准由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会(SAC/TC431)归口。
本标准起草单位:深圳市盛波光电科技有限公司。
本标准主要起草人:邱韶华、陈敏、钟伟宏、苏丹、仲伟虹、钱琨、盛正军。
ⅠGB/T33048—2016
偏振片 光学补偿值的测定
1 范围
本标准规定了偏振片用补偿膜的补偿值的测试方法。
本标准适用于单层光学补偿膜的测试,也适用于贴有补偿膜的偏振片的补偿值的测试。
2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
补偿值 retardation
光线通过具有双折射特性材料时,产生的寻常光与非寻常光传输速度差异所导致的两种光叠加形
成的位相差。
2.2
平面内补偿值 in-planeretardation
Re
平面内获得的位相差补偿。
Re=(nx-ny)d
式中:
nx———膜平面内慢轴方向上的折射率;
ny———膜平面内快轴方向上的折射率;
d———膜的厚度,单位为纳米(nm)。
2.3
厚度补偿值 thicknessretardation
Rth
厚度方向获得的位相差补偿。
Rth=nx+ny
2-nzæ
èçö
ø÷d
式中:
nx———膜平面内慢轴方向上的折射率;
ny———膜平面内快轴方向上的折射率;
nz———膜厚度方向上的折射率;
d———膜的厚度,单位为纳米(nm)。
2.4
寻常光 ordinarylight
o光
遵从折射定律的传输光。
1GB/T33048—2016
2.5
非寻常光 extraordinarylight
e光
不遵从折射定律的传输光。
3 测试设备
相位差测量仪,由光源、起偏系统、样品台、检偏系统、受光元件组成。
光源:白色光源,如卤素灯。
波长范围:400nm~800nm,精度要求:0.5nm。
起偏器、检偏器转动精度要求:0.1°。
旋转平台:倾斜角度:-50°~50°(精度:0.1°);回转角度:-180°~180°(精度:0.1°)。
测试设备结构如图1:
说明:
1———白色光源;
2———起偏系统;
3———固定样品台,测试Re值用;
4———检偏系统;
5———受光元件;
6———旋转样品台,测试Rth值用。
图1 测试原理示意图
4 测试原理
测试原理如下:
a) 光由光源发出,先通过起偏系统形成线偏光;
b) 线偏光投向待测物品,形成线偏光或椭圆偏光或圆偏光;
c) b)形成的新光再通过检偏系统投向受光元件,由受光元件测定接收光的强度;
d) 测试过程中通过马达控制起偏系统及检偏系统中偏光子的旋转角度,由软件系统自动记录下
2GB/T33048—2016
角度与光强的变化关系,利用偏振系统数学算法间接推算出待测物品的位相差值。
5 试样制备
样品裁切成40mm×30mm大小,样品的两侧表面应平整且平行,无灰尘、气泡、顶伤、划痕、条纹
等肉眼可见的缺陷,样品厚度应不超过2.5mm。
6 测试环境
测试环境温度为23℃±2℃,相对湿度为65%±15%。
7 测试步骤
7.1 先不放入待测物,进行光路调整,使得起偏器与检偏器主轴方位角均为0°。
7.2 放入待测样品,使测试点与系统的轴线在同一水平线,样品的长边与仪器样品台的基准边平行,固
定好。
7.3 使检偏器主轴方位角为0°,起偏器主轴方位角为45°,测试400nm~800nm范围内的光强值。
7.4 使检偏器与起偏器主轴方位角均为45°,此时两者的主轴方向平行,测试400nm~800nm范围内
的光强值。
7.5 使检偏器主轴方位角为135°,起偏器主轴方位角为45°,此时两者的主轴方向直交,测试400nm~
800nm范围内的光强值。
8 结果的计算与表述
计算公式见式(1)。
[IQUV]T=MP2MSMP1[I0Q0U0V0]T……………………(1)
式中:
MP1 ———起偏器的米勒矩阵;
MP2 ———检偏器的米勒矩阵;
MS ———待测物的米勒矩阵;
[IQUV]T———出射光的米勒矩阵;
[I0Q0U0V0]T———自然光的米勒矩阵,其值为I0[1000]T;
MP1=1
21 cos2θ1 sin2θ10
cos2θ1cos22θ1cos2θ1sin2θ10
sin2θ1cos2θ1sin2θ1sin22θ10
0 0 0 0é
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ú;
MP2=1
21 cos2θ2 sin2θ20
cos2θ2cos22θ2cos2θ2sin2θ20
sin2θ2cos2θ2sin2θ2sin22θ20
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ú;GB/T33048—2016
GB/T33048—2016
MS=1 0 0 0
0cos22θ3+sin22θ3cosδcos2θ3sin2θ3(1-cosδ)-sin2θ3sinδ
0cos2θ3sin2θ3(1-cosδ)sin22θ3+cos22θ3cosδcos2θ3sinδ
0 sin2θ3sinδ -cos2θ3sinδ cosδé
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ú
ú
ú
úú。
将MP1、MP2、MS代入式(1),可得出射光强的计算公式,见式(2)。
I=I0
4[2cos2(θ1-θ2)-(1-cosδ)cos2θ1cos2θ2+2(1-cosδ)cos2θ3cos2(θ3-θ1-θ2)]
……………………(2)
式中:
I ———测试光强;
I0———入射光强;
θ1———起偏器的主轴方位角;
θ2———检偏器的主轴方位角;
θ3———待测物的主轴方位角;
δ———待测物引起的光程差。
测试结果以纳米(nm)表示的位相差值由式(3)计算。
R=2π
λδ ……………………(3)
式中:
R———位相差值;
λ———光波长。
每次测试三个点,平行测试三次。
9 测试报告
测试报告应包含以下内容:
———样品来源;
———测试项目名称;
———环境条件;
———测试日期;
———测试设备;
———测试结果;
———测试人。
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