ICS77.120.99 H14 中华人民共和国国家标准 GB/T30457—2013 灯 灯用稀土紫外发射荧光粉试验方法 Testmethodsofrareearthultravioletemissionphosphorsfor fluorescentlamps 2013-12-31发布 2014-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅰ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 相对发射强度的测定 1 …………………………………………………………………………………… 4 发射主峰和半宽度的测定 3 ……………………………………………………………………………… 5 热稳定性的测定 6 …………………………………………………………………………………………GB/T30457—2013 前 言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国稀土标准化技术委员会(SAC/TC229)归口。 本标准负责起草单位:江门市科恒实业股份有限公司。 本标准参加起草单位:大连路明发光科技股份有限公司、有研稀土新材料股份有限公司、杭州大明 荧光材料有限公司、厦门通士达新材料有限公司、包头稀土研究院、广州有色金属研究院、杭州远方光电 信息股份有限公司、天美(中国)科学仪器有限公司。 本标准主要起草人:温强、胡学芳、黄瑞甜、陈饶、夏威、王细凤、闵芳胜、何华强、胡运生、陈友三、 杨幼梅、邱海林、曲智博、李倩、解萍、李许波、季欣。 ⅠGB/T30457—2013 灯用稀土紫外发射荧光粉试验方法 1 范围 本标准规定了灯用稀土紫外发射荧光粉相对发射强度、发射主峰和半宽度及热稳定性的测定方法。 本标准适用于灯用稀土紫外发射荧光粉相对发射强度、发射主峰和半宽度及热稳定性的测定。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T14634.3—2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第3部分:热稳定性的测定 CIE15—2004 色度学(Colorimetry) CIE1931 标准色度观察者(StandardColorimetricObserver) 3 相对发射强度的测定 3.1 方法原理 试样在253.7nm紫外线激发下发射主峰在280nm~380nm波段内的紫外光,采用校正的光谱测 量,获得该试样在280nm~480nm波段相对发射光谱,然后与同类标准荧光粉在同样条件下测得的在 280nm~480nm波段发射光谱积分面积比较,得出灯用稀土紫外发射荧光粉的相对发射强度。 3.2 仪器与装置 3.2.1 试样的激发、测量条件 3.2.1.1 激发、测试条件:激发(照射)光线与试样(或漫反射白板)表面法线方向成45°,接受方向垂直试 样表面(45/0);或激发光线与试样表面垂直,接受方向与试样表面法线成45°(0/45);或采用积分球全 方向光线采集模式。 3.2.1.2 漫反射白板要求:计量部门标定过的压制分析纯BaSO4。 3.2.2 激发光源 发射253.7nm紫外线,配253.7nm紫外滤光片,该滤光片的峰值透射比大于10%,在300nm~ 800nm波长范围内透射比不大于0.1%;253.7nm辐射强度稳定度优于0.2%/10min,否则应加补偿。 3.2.3 标准荧光粉的选择 按表1的规定,选择与待测试样相对应的标准荧光粉。 1GB/T30457—2013 表1 待测试样荧光粉牌号 相对应的标准荧光粉国家标准样品编号 208000A(G300) 208000B(G345) 208101A(G315) 208101B(G355) 208202(G370)GSB 04-3097—2013 3.3 测试步骤 3.3.1 取2g试样和2g标准样品分别装入样品盘内,用平面玻璃压平,使表面平整。 3.3.2 用253.7nm为主的紫外线稳定激发试样和标准样品。 3.3.3 从280nm~480nm按一定的波长间隔测得试样光电信号I(λ)。 3.3.4 试样和标准样品连续重复读数三次,相对偏差不应超过0.5%。取算术平均值进行计算。 3.4 测试结果的表述 按式(1)计算试样的相对发射强度Br(%): Br=L L0×100% ……………………(1) 式中: L———测得的试样发射强度; L0———测得的标准样品发射强度。 其中L=∫480 280L(λ)dλ,L(λ)为荧光粉在λ波长处发射强度。 3.5 精密度 3.5.1 重复性 在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果 的绝对差值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%,重复性限(r)按表2数据采用线 性内插法求得。 表2 待测试样荧光粉牌号 相对发射强度(Br)/% 重复性限(r)/% 208000A(G300)104.2 1.2 102.0 1.1 96.7 2.1 208000B(G345)102.5 0.8 99.7 1.1 98.5 1.3 2GB/T30457—2013 表2(续) 待测试样荧光粉牌号 相对发射强度(Br)/% 重复性限(r)/% 208101A(G315)103.3 0.9 98.5 1.2 92.2 1.0 208101B(G355)99.9 1.6 100 0.8 97.4 1.5 208202(G370)101.3 0.6 99.4 1.5 98.6 2.2 注:重复性限(r)为2.8×Sr,Sr为重复性标准差。 3.5.2 允许差 实验室之间相对发射强度分析结果的差值应不大于表3所列允许差。 表3 待测试样荧光粉牌号 允许差/% 208000A(G300) 5 208000B(G345) 5 208101A(G315) 5 208101B(G355) 5 208202(G370) 5 4 发射主峰和半宽度的测定 4.1 方法原理 试样在253.7nm紫外线激发下发射主峰在280nm~380nm波段内的紫外光,采用校正的光谱测 量,获得该试样在280nm~480nm波段相对发射光谱。 4.2 仪器 4.2.1 测量系统装置 4.2.1.1 光谱测试仪 4.2.1.1.1 波长不确定度:标准偏差不大于0.5nm。 4.2.1.1.2 波长重现性:标准偏差均不大于0.2nm。 4.2.1.1.3 光谱测试仪的波长范围应至少包括250nm~480nm。 3GB/T30457—2013 4.2.1.2 激发、测试条件 4.2.1.2.1 激发(照射)光线与试样(或漫反射白板)表面法线方向成45°,接受方向垂直试样表面 (45/0)。 4.2.1.2.2 或激发光线与试样表面垂直,接受方向与试样表面法线成45°(0/45)。 4.2.1.2.3 或采用积分球全方向光线采集模式。 4.2.1.3 漫反射白板要求 计量部门标定过的压制分析纯BaSO4。 4.2.1.4 激发部件 253.7nm紫外线低气压汞灯加配滤色片,滤色片峰值透射比应大于10%,300nm~800nm的透射 比不大于0.01%,253.7nm辐射强度稳定度优于0.2%/10min,否则应加补偿。 4.2.1.5 校正部件 4.2.1.5.1 波长校正灯:波长为253.7nm、404.66nm、435.88nm、546.07nm的低气压汞特征谱线,另 外还应有大于600nm的谱线。如波长为656.10nm的氘谱线,或波长为632.80nm的He-Ne激光,或 汞氩灯在600nm~800nm间的谱线等。 4.2.1.5.2 光谱响应校正灯(必须具有紫外光谱分布):经过国家计量部门检定的已知光谱功率分布的 标准光源,并按国家计量部门规定送检。 4.3 测试步骤 4.3.1 光谱测试仪波长校正 分光仪波长读数和被测光源实际波长对应关系的校正:用满足4.2.1.5.1条件的已知波长的光源, 校正分光仪出射波长与仪器波长读数。校正后测试此波长的光源多次,测得波长与已知波长关系应满 足4.2.1.1.1与4.2.1.1.2要求。 4.3.2 光谱测试仪光谱响应的校正 4.3.2.1 将漫反射白板放置于试样位置,用光谱响应校正灯按4.2.1.3要求照射漫反射白板。 4.3.2.2 调正仪器灵敏度,使光谱辐射仪处于线性工作区。 4.3.2.3 选择合适的仪器带宽,带宽一般为1nm或5nm。 4.3.2.4 从280nm~480nm按确定的Δλ顺序记录光电信号。 4.3.2.5 校正后测试此光谱响应校正灯及较高色温的试样。按式(2)计算出系统光谱响应函数α(λ): α(λ)=S0(λ) I0(λ)…………………………(2) 式中: α(λ)———系统光谱响应函数; S0(λ)———校正光源的相对光谱功率分布; I0(λ)———测得的光电信号。 4.3.3 测试 4.3.3.1 激发灯满足4.2.1.4要求,激发灯与试样位置满足4.2.1.2,激发试样量为2g。 4GB/T30457—2013 4.3.3.2 从280nm~480nm按一定的波长间隔测得试样光电信号I(λ)。 4.3.3.3 按式(3)计算试样相对光谱功率分布: S(λ