书 书 书犐犆犛 ７１ ． ０４０ ． ９９ 犖 ５３ 中华人民共和国国家标准 犌犅 ／ 犜 １７３６２ — ２００８ 代替 ＧＢ ／ Ｔ１７３６２ — １９９８ ， ＧＢ ／ Ｔ１７７２３ — １９９９ 黄金制品的扫描电镜 犡 射线 能谱分析方法 犃狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱犳狅狉犵狅犾犱狆狉狅犱狌犮狋狊 狑犻狋犺犡狉犪狔犈犇犛犻狀犛犈犕 ２００８  ０９  １８ 发布 ２００９  ０５  ０１ 实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布书 书 书前 　　 言 　　 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ１７３６２ — １９９８ 《 黄金饰品的扫描电镜 Ｘ 射线能谱分析方法 》 和 ＧＢ ／ Ｔ１７７２３ — １９９９ 《 黄金制品镀层成分的 Ｘ 射线能谱测量方法 》 两个标准 。 本标准与 ＧＢ ／ Ｔ１７３６２ — １９９８ 和 ＧＢ ／ Ｔ１７７２３ — １９９９ 两个标准相比主要修改如下 ： ——— 将适用范围进行了合并 ， 使其能分别适用于不同含金量的 Ｋ 金制成的黄金制品和表面有含金 镀层的镀金制品的镀层成分的测定这两种情况 ； ——— 将原来两个标准的相关章节 ， 删去重复的部分 ， 对不同的部分进行整理加工形成新的文本 ； ——— 删去了 ＧＢ ／ Ｔ１７７２３ 中 “ 术语 ” 这一节 ； ——— 原标准中 “ 饰品 ” 一律改为 “ 制品 ”； ——— 本标准不再规定选用的校正程序 ， 操作人员可根据实际分析的试样 ， 自行选择采用 ； ——— 着重强调测定镀层制品时 ， 工作电压的选择 ， 这是对镀层成分能否测准的关键所在 。 本标准的附录 Ａ 为规范性附录 。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出 。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口 。 本标准起草单位 ： 北京有色金属研究总院 、 核工业总公司北京地质研究院 、 北京钢铁研究总院 。 本标准主要起草人 ： 刘安生 、 张宜 、 毛允静 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ１７３６２ — １９９８ ； ——— ＧＢ ／ Ｔ１７７２３ — １９９９ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 １７３６２ — ２００８ 黄金制品的扫描电镜 犡 射线 能谱分析方法 １ 　 范围 １ ． １ 　 本标准规定了用配置在扫描电镜上的 Ｘ 射线能谱仪对黄金制品化学成分进行无损定量分析的方 法和技术要求 。 １ ． ２ 　 本标准适用于各种纯金制品和 Ｋ 金制品化学成分的测定 ， 也适用于各种镀金 、 包金 、 锻压金等制 品表面含金层厚度为 ０．２ μ ｍ 以上 ， ３ μ ｍ 以下的表面层化学成分无损测定 。 １ ． ３ 　 本标准适用于黄金制品中质量分数在 ０．１％ ～ １００％ 的元素定量分析 。 本标准也适用于配置在电 子探针分析仪上的 Ｘ 射线能谱仪对黄金制品的分析 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 。 凡是注日期的引用文件 ， 其随后所有 的修改单 （ 不包括勘误的内容 ） 或修订版均不适用于本标准 ， 然而 ， 鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本适用于本标准 。 ＧＢ ／ Ｔ４９３０ 　 电子探针分析标准样品通用技术条件 ３ 　 分析方法原理 在扫描电镜中 ， 当具有一定能量并被聚焦的电子束轰击样品时 ， 被照射区发射出各个元素的特征 Ｘ 射线 ， 利用半导体探测器对不同能量的 Ｘ 射线进行色散的特性 ， 对接收的信号进行放大 、 处理和分 析 ， 可获得各元素的特征 Ｘ 射线峰的能量分布及其强度值 ， 再通过与相应的标准样品的 Ｘ 射线谱的对 比测定 ， 以及修正计算处理 ， 最终可以获得被测试样的化学组成的定量分析结果 。 对镀层试样 ， 通过改变扫描电镜的工作电压 ， 从而改变入射电子在试样中的穿透深度 ， 从而获得不 同深度内元素存在的信息 。 在相同的实验条件下 ， 测量镀层中存在元素和相应的标准样品中同种元素 的特征 Ｘ 射线 ， 经对比 、 修正后求出镀层内相应于电子穿透深度范围内的元素组成的定量分析结果 。 ４ 　 仪器和材料 ４ ． １ 　 扫描电子显微镜 。 ４ ． ２ 　 Ｘ 射线能谱仪 。 ４ ． ３ 　 超声波清洗器 。 ４ ． ４ 　 无水乙醇 、 丙酮 。 ４ ． ５ 　 电吹风机 。 ４ ． ６ 　 Ｋ 金标样一套 。 ５ 　 标准样品 ５ ． １ 　 黄金制品通常只含有金 、 银 、 铜三种元素 ， 在有些情况下 ， 还可能含有锌 、 镍 、 镉等元素 。 ５ ． ２ 　 标准样品的选择原则 。 推荐使用符合 ＧＢ ／ Ｔ４９３０ 电子探针分析标准样品通用技术条件的标准样 品 ， 金 、 银采用下列标样 ： ａ ） 　 纯金标样 ； １ 犌犅 ／ 犜 １７３６２ — ２００８ ｂ ） 　 ２２Ｋ 金银标样 ； ｃ ） 　 １８Ｋ 金银标样 ； ｄ ） 　 １２Ｋ 金银标样 。 ６ 　 试样 ６ ． １ 　 首先将黄金饰品试样表面作净化处理 ， 放入盛有无水乙醇或丙酮溶液的烧杯中 ， 置于超声波清洗 器中进行超声清洗 ５ｍｉｎ ， 取出用电吹风机吹干 。 ６ ． ２ 　 对各类不同的黄金饰品建议选用下列表面作为分析表面 ： ａ ） 　 戒指和耳环 ： 环的外表面和侧面 ； ｂ ） 　 手镯 ： 环的侧面 ； ｃ ） 　 项链 、 手链 ： 将其盘绕成一盘香状 。 在能简单拆开而不会造成原件损坏时 ， 应任意取其中的一 或二小节做检测 ； ｄ ） 　 耳坠 、 项坠 、 领花 、 胸花和各种形状复杂的饰品 ： 选用最大的平整表面 ； ｅ ） 　 金质纪念币 ： 任选币的正 、 反面平整部分 ； ｆ ） 　 对镶嵌有玉石 、 宝石等非金属饰品的首饰 ， 应尽量避开这些镶嵌物和焊接点 ， 选用最大的平整 表面 。 ６ ． ３ 　 试样装入所用仪器的试样座内 ， 调节分析面尽量与试样座上表面取平 ， 试样要固定牢固 ， 不能晃动 （ 最好用双面导电胶固定 ）。 并要与试样台保持良好的导电通路 。 ７ 　 测量条件的选择 ７ ． １ 　 对黄金饰品工作电压选择 ２５ｋＶ 。 ７ ． ２ 　 对镀层制品工作电压选择 １０ｋＶ 、 １５ｋＶ 、 ２０ｋＶ 、 ２５ｋＶ 、 ３５ｋＶ ， 适当改变束流 ， 使能谱死时间小于 ３０％ ， 分别获得 Ｘ 射线能谱 ， 确定谱中包含的元素 ， 进行定性分析特别注意每次改变工作电压新增加的 元素和相对量的变化 ， 作定性分析 ， 区分开基体与镀层中分别存在的元素种类 。 ７ ． ３ 　 调节电子束入射束流的大小 ， 通常为 １×１０ －９ Ａ ～ ３×１０ －１０ Ａ ， 保证 Ｘ 射线总计数率在 ３０００ｃｐｓ ～ ５０００ｃｐｓ 范围内 ， 如仪器使用 ＳＤＤ 能谱 ， 计数率还可适当增加 ， 死时间小于 ３０％ 。 ７ ． ３ ． １ 　 对黄金制品推荐采用的线系 ： ａ ） 　 Ａｕ ： 采用 Ｍ 线系 ； ｂ ） 　 Ａｇ 、 Ｃｄ ： 采用 Ｌ 线系 ； ｃ ） 　 Ｃｕ 、 Ｚｎ 、 Ｎｉ 等 ： 采用 Ｋ 线系 。 ７ ． ３ ． ２ 　 对镀层制品推荐采用的线系 ： ７ ． ３ ． ２ ． １ 　 镀层厚度为 ２ μ ｍ ～ ３ μ ｍ ， 工作电压为 ２５ｋＶ 条件下 ： ａ ） 　 Ａｕ ： 采用 Ｍ 线系 ； ｂ ） 　 Ａｇ 、 Ｃｄ ： 采用 Ｌ 线系 ； ｃ ） 　 Ｃｕ 、 Ｚｎ 、 Ｎｉ 等 ： 采用 Ｋ 线系 。 ７ ． ３ ． ２ ． ２ 　 镀层厚度为 １ μ ｍ ～ ２ μ ｍ ， 工作电压为 １５ｋＶ 条件下 ： ａ ） 　 Ａｕ ： 采用 Ｍ 线系 ； ｂ ） 　 Ａｇ 、 Ｃｄ ： 采用 Ｌ 线系 ； ｃ ） 　 Ｃｕ 、 Ｚｎ 、 Ｎｉ 等 ： 采用 Ｋ 线系 。 ７ ． ３ ． ２ ． ３ 　 镀层厚度为 ０．２ μ ｍ ～ １ μ ｍ ， 可适当增加束流至 ５×１０ －９ Ａ 左右 ， 束斑直径可放大至 ５０ μ ｍ ， 工作电压为 １０ｋＶ 条件下 ： ２ 犌犅 ／ 犜 １７３６２ — ２００８ ａ ） 　 Ａｕ ： 采用 Ｍ 线系 ； ｂ ） 　 Ａｇ 、 Ｃｄ ： 采用 Ｌ 线系 ； ｃ ） 　 Ｃｕ 、 Ｚｎ 、 Ｎｉ 等 ： 采用 Ｌ 线系 。 ７ ． ４ 　 计数时间设定应满足分析准确度的要求 ， 应使全谱总计数量大于 ２０００００ ， 一般为 １００ｓ 。 ７ ． ５ 　 经常检查 Ｘ 射线探测器的窗口污染程度 。 ７ ． ５ ． １ 　 检查时可应用某一纯元素样品的高 、 低能量的 Ｘ 射线峰值强度比值来估算 ： ａ ） 　 对于一般标准铍窗的 Ｓｉ （ Ｌｉ ） 探头 ， 在工作电压为 ２０ｋＶ 的条件下 ， Ｃｕ 的 Ｋ 与 Ｌ 谱峰之比值应 为 １∶０．５ ； ｂ ） 　 对于超薄窗探头 ， 在工作电压为 １５ｋＶ 的条件下 ， Ｃｕ 的 Ｋ 与 Ｌ 谱峰之比值应为 １∶１．５ 。 ７ ． ５ ． ２ 　 要经常保持探测器窗口清洁 ， 当污染严重影响 Ｘ 射线的强度时应及时清洗该窗口 。 ７ ． ５ ． ３ 　 当污染影响 Ｘ 射线的强度不太严重时 ， 可通过增加 Ｘ 射线探测器的窗口厚度值参数进行修正 。 ８ 　 测量分析步骤 ８ ． １ 　 在低倍放大倍数 （ 不大于 ５０ 倍 ） 下的扫描图像上来确定分析部位 ， 先使电子束聚焦 ， 并保持图像清 晰 ， 把电子束束斑调