ICS 01. 040. 37:37. 020 N 33 中华人民共和国国家标准 GB/T 23414--2009/ISO 22493:2008 微束分析 扫描电子显微术 ‧术语 Microbeam analysis--Scanning electron microscopy- Vocabulary (1SO 22493:2008,IDT) 2009-04-01发布 2009-12-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 23414—2009/ISO 22493:2008 目 次 前言 引言 II 范围 缩略语 3 SEM物理基础术语： SEM仪器术语. 5 SEM成像和图像处理术语 6 SEM图像诠释和分析术语 14 7 SEM图像放大倍率和分辨率校正及测量术语 16 参考文献…. 18 中文索引…… 19 英文索引 22

.pdf文档 GB-T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语

文档预览
中文文档 31 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分
温馨提示：本文档共31页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语 第 1 页 GB-T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语 第 2 页 GB-T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语 第 3 页
下载文档到电脑，方便使用
本文档由 人生无常 于 2024-06-13 23:51:20上传分享
举报
下载(17.5 MB)
分享
友情链接
友情链接
国家标准网 公共安全标准网 标准图书馆 国家标准网
站点地图
青ICP备2010007617号
Powered By DocHub 2.4
站内资源均来自网友分享或网络收集整理，若无意中侵犯到您的权利，敬请联系我们微信(点击查看客服)，我们将及时删除相关资源。