ICS19.020 N04 中华人民共和国国家标准 GB/T27760—2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力 显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometerdisplacementlevels using Si（111)monatomic steps 2011-12-30发布 2012-05-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 277602011 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准与ASTME2530一2006《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行 校准的方法》(英文版)技术内容基本一致 考虑到我国国情，在采用ASTME2530一2006时，本标准做了一些修改，有关技术性差异已编人 正文中。附录A（规范性附录)中给出样品制备方法，附录B（资料性附录)中列出了本标准章条编号与 ASTME2530一2006章条编号的对照一览表，附录C(资料性附录）中给出了技术性差异及其原因一览 表以供参考。 本标准由中国科学院提出， 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279)归口。 本标准起草单位：国家纳米科学中心。 本标准主要起草人：朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁。
GB-T 27760-2011 利用Si 111 晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
文档预览
中文文档
13 页
50 下载
1000 浏览
0 评论
309 收藏
3.0分
温馨提示：本文档共13页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
本文档由 人生无常 于 2024-05-25 14:59:27上传分享
GB-T 27760-2011 利用Si 111 晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
