书 书 书犐犆犛 １７ ． ０４０ ． ３０ 犑 ４２ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 ２２０９２ — ２０１８ /G21 /G22 ＧＢ ／ Ｔ２２０９２ — ２００８ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G28 /G29 /G2A /G2B /G2C /G2D 犕犻犮狉狅犿犲狋犲狉犺犲犪犱犪狀犱犱犲狆狋犺犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔 ２０１８  ０５  １４ /G2E /G2F ２０１８  １２  ０１ /G30 /G31 /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G21 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G2E /G2F书 书 书前 　　 言 　　 本标准按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 本标准代替 ＧＢ ／ Ｔ２２０９２ — ２００８ 《 电子数显测微头和深度千分尺 》。 本标准与 ＧＢ ／ Ｔ２２０９２ — ２００８ 相比 ， 除编辑性修改外 ， 主要技术变化如下 ： ——— 扩大电子数显测微头和深度千分尺的量程到 ５０ｍｍ （ 见第 １ 章 、 ４．２．２ ， ２００８ 年版的第 １ 章 、 ４．２．２ ）； ——— 修改了电子数显千分尺数显装置的定义 （ 见 ３．１ ， ２００８ 年版的 ３．１ ）； ——— 增加了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的定义 （ 见 ３．２ 、 ３．３ ）； ——— 增加了测微螺杆螺距为 ２ｍｍ 的电子数显测微头和深度千分尺 （ 见 ４．２．１ ）； ——— 修改了对锁紧变化的要求 （ 见 ５．５ ， ２００８ 年版的第 １ 章 ）； ——— 增加了对电子数显深度千分尺测量面平行度的要求和检验 （ 见 ５．８．５ 、 ６．１．４ ）； ——— 增加了量程等于 ５０ｍｍ 的电子数显测微头及其示值最大允许误差的要求 （ 见 ５．１１．１ ）； ——— 修改了示值最大允许误差的规定值 （ 见 ５．１１ 和表 １ ， ２００８ 年版的 ５．１１ 和表 １ ）； ——— 删除了附录 Ａ ， 把附录 Ａ 的内容放到正文里 （ 见 ５．１１ 、 表 ２ ， ２００８ 年版的附录 Ａ ）； ——— 增加了对电子数显深度千分尺校对柱的要求 （ 见 ５．１３ ）； ——— 修改了分度误差检验方法的注 ２ （ 见 ６．３．１ ， ２００８ 年版的 ６．３．１ ）； ——— 修改了示值误差的检验方法 （ 见 ６．４．２ ， ２００８ 年版的 ６．４．２ ）； ——— 增加了示值误差检验方法的 Ｂ 组尺寸系列检验量块 （ 见 ６．４．２ 和表 ２ ， ２００８ 年版的 ６．４．２ ）； ——— 增加了量程等于 ５０ｍｍ 的电子数显测微头的示值误差检验量块 （ 见 ６．４．２ 和表 ２ ）； ——— 删除了对角度传感器等分数的规定 （ 见 ２００８ 年版的 ５．１０．３ ）。 本标准由中国机械工业联合会提出 。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会 （ ＳＡＣ ／ ＴＣ１３２ ） 归口 。 本标准负责起草单位 ： 苏州麦克龙测量技术有限公司 。 本标准参加起草单位 ： 成都工具研究所有限公司 、 桂林量具刃具有限责任公司 、 成都成量工具集团有限公司 、 哈尔滨量具刃具集团有限责任公司 、 桂林广陆数字测控有限公司 、 东莞市特马电子有限公司 、 广西壮族自治区计量检测研究院 、 辽宁省计量科学研究院 。 本标准主要起草人 ： 黄晓宾 、 王荣华 、 许刚 、 赵伟荣 、 李荣农 、 周萍 、 闫列雪 、 王昭进 、 王智慧 、 姚兴宇 。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 ： ——— ＧＢ ／ Ｔ２２０９２ — ２００８ 。 Ⅰ 犌犅 ／ 犜 ２２０９２ — ２０１８ 电子数显测微头和深度千分尺 １ 　 范围 本标准规定了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的术语和定义 /G21 型式与基本参数 /G21 要求 /G21 检验方法 、 试验方法 、 标志与包装 。 本标准适用于分辨力为 ０．００１ｍｍ ， 量程小于或等于 ５０ｍｍ 的电子数显测微头和测量范围上限至 ３００ｍｍ 的电子数显深度千分尺 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。 凡是注日期的引用文件 ， 仅注日期的版本适用于本文件 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本 （ 包括所有的修改单 ） 适用于本文件 。 ＧＢ ／ Ｔ１２１６ — ２０１８ 　 外径千分尺 ＧＢ ／ Ｔ２４２３．３ — ２０１６ 　 环境试验 　 第 ２ 部分 ： 试验方法 　 试验 Ｃａｂ ： 恒定湿热试验 ＧＢ ／ Ｔ２４２３．２２ — ２０１２ 　 环境试验 　 第 ２ 部分 ： 试验方法 　 试验 Ｎ ： 温度变化 ＧＢ ／ Ｔ４２０８ — ２０１７ 　 外壳防护等级 （ ＩＰ 代码 ） ＧＢ ／ Ｔ１８００．２ — ２００９ 　 产品几何技术规范 （ ＧＰＳ ） 　 极限与配合 　 第 ２ 部分 ： 标准公差等级和孔 、 轴极限偏差表 ＧＢ ／ Ｔ１７１６３ — ２００８ 　 几何量测量器具术语 　 基本术语 ＧＢ ／ Ｔ１７１６４ — ２００８ 　 几何量测量器具术语 　 产品术语 ＧＢ ／ Ｔ１７６２６．２ — ２００６ 　 电磁兼容 　 试验和测量技术 　 静电放电抗扰度试验 ＧＢ ／ Ｔ１７６２６．３ — ２０１６ 　 电磁兼容 　 试验和测量技术 　 射频电磁场辐射抗扰度试验 ＧＢ ／ Ｔ２４６３４ — ２００９ 　 产品几何技术规范 （ ＧＰＳ ） 　 ＧＰＳ 测量设备通用概念和要求 ３ 　 术语和定义 ＧＢ ／ Ｔ１７１６３ — ２００８ 、 ＧＢ ／ Ｔ１７１６４ — ２００８ 和 ＧＢ ／ Ｔ２４６３４ — ２００９ 界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。 ３ ． １ 电子数显千分尺数显装置 　 犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犻狀犱犻犮犪狋犻狀犵犱犲狏犻犮犲狊犳狅狉犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉 利用角度传感器 、 电子和数字显示技术 ， 计算并显示电子数显千分尺的测微螺杆位移的装置 。 注 ： 以下简称 “ 电子数显装置 ”。 ３ ． ２ 电子数显测微头 　 犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉犺犲犪犱狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔 利用电子数显千分尺数显装置 ， 对测微螺杆轴向位移进行读数并具有安装部位的测量器具 。 ３ ． ３ 电子数显深度千分尺 　 犱犲狆狋犺犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔 利用电子数显装置 ， 对底板测量面与测微螺杆测量面分隔的距离进行读数的测量器具 。 注 ： 改写 ＧＢ ／ Ｔ１７１６４ — ２００８ ， 定义 ２．３．１３ 。 １ 犌犅 ／ 犜 ２２０９２ — ２０１８ ４ 　 型式与基本参数 ４ ． １ 　 型式 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的型式如图 １ 和图 ２ 所示 。 图示仅供图解说明 ， 不表示详细结构 。 图 １ 　 电子数显测微头型式示意图 图 ２ 　 电子数显深度千分尺型式示意图 ４ ． ２ 　 基本参数 ４ ． ２ ． １ 　 电子数显测微头和电子数显深度千分尺测微螺杆的螺距宜为 ０．５ｍｍ 、 １ｍｍ 或 ２ｍｍ 。 ４ ． ２ ． ２ 　 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的量程宜为 ２５ｍｍ 、 ３０ｍｍ 或 ５０ｍｍ 。 ４ ． ２ ． ３ 　 电子数显测微头安装部位的直径宜为  １２ｈ６ 。 ４ ． ２ ． ４ 　 电子数显深度千分尺的测量范围的下限宜为 ０ｍｍ 或 ２５ｍｍ 的整数倍 。 ２ 犌犅 ／ 犜 ２２０９２ — ２０１８ ５ 　 要求 ５ ． １ 　 外观 ５ ． １ ． １ 　 电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕 、 划伤 、 碰伤 、 锈 蚀 、 毛刺等缺陷 。 ５ ． １ ． ２ 　 电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面的镀 、 涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷 。 ５ ． １ ． ３ 　 电子数显装置的数字显示屏应透明 、 清洁 ， 无划痕 、 气泡等影响读数的缺陷 。 ５ ． ２ 　 材料 ５ ． ２ ． １ 　 电子数显深度千分尺底板应选择合金工具钢 、 不锈钢或其他类似性能的材料制造 。 ５ ． ２ ． ２ 　 测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢 、 不锈钢或其他类似性能的材料制造 ； 测量面宜镶硬质合金或其他耐磨材料 。 ５ ． ３ 　 相互作用 ５ ． ３ ． １ 　 测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合 ， 配合良好 ， 不应出现卡滞和明显的轴向窜动 。 ５ ． ３ ． ２ 　 测微螺杆伸出的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好 ， 不应出现明显的径向摆动 。 ５ ． ４ 　 测力装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜具有测力装置 。 通过测力装置作用到测量面的测量力应 在 ４Ｎ ～ １０Ｎ 之间 ， 测量力变化应不大于 ２Ｎ 。 ５ ． ５ 　 锁紧装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜有锁紧装置 。 锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆 ， 锁紧 前 、 后 ， 两测量面间的距离变化不应大于 ２ μ ｍ （ 在锁紧部位测微螺杆有刚性支撑 ） 或 ３ μ ｍ （ 在锁紧部位测微螺杆无刚性支撑